IBM Journal of Research and Development
Home
Products & services
Support & downloads
My account
Select a country
Journals Home
Systems Journal
Journal of Research
and Development
·
Current Issue
·
Recent Issues
·
Papers in Progress
· Search/Index
·
Orders
·
Description
·
Patents
·
Recent publications
·
Author's Guide
Staff
Contact Us
Related links:
IBM Research
Browse by Author
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
No Author
Find Author:
Saalmueller, J.
Sabharwal, Y.
Sabhikhi, R. K.
Saccone,Jr., R. A.
Sachs, M. W.
Saenger, K. L.
Sagmeister, P.
Sagnis,Jr., J. C.
Sahlberg, R.
Sahni, O.
Sahoo, R. K.
Sai-Halasz, G. A.
Saiki, D. Y.
Saitoh, M.
Sakalay, F. E.
Sakamoto, K.
Sakkalis, T.
Sakkas, C. M.
Salapura, V.
Salimi, B.
Salinga, M.
Salsburg, K. A.
Salza, S.
Sambucetti, C.
Sambucetti, C. J.
Sameske, V.
Sammet, J. E.
Sampogna, M.
Sampson, P. D.
Samudra, G.
Samuel, A. L.
Sanborn, M. A.
Sanchez, M. I.
Sanda, P. N.
Sanda, P. N.
Sanders, I. L.
Sandhu, J. S.
Sandon, P. A.
Sandstrom, R. L.
Sands, S. A.
Sanford, J. L.
Sankararaman, S.
Sanomiya, A.
Santacroce, R.
Santana, G. R.
Santangelo, P.
Santisteban, A.
Santo, R.
Sanuki, T.
Sarachik, M. P.
Saraf, R. F.
Saremski, K. H.
Sargent, R. G.
Sarkar, P.
Sarkar, V.
Sarley, J. M.
Sarma, S.
Saronwala, A.
Sathaye, S.
Satoh, A.
Sato, Y.
Satran, J.
Sauer, C. H.
Sauer, L. A.
Sauer, W. M.
Saunders, P. A.
Savage, J. E.
Savir, D.
Savir, J.
Savoy, R. J.
Sawada, J.
Sawatzky, E.
Sawdey, A. C.
Saxenmeyer,Jr., G. J.
Sax, G. C.
Sayah, J. Y.
Sa, J. E. Amaral de
Scalzi, C. A.
Scarborough, L. J.
Scarborough, R. G.
Scarci, S.
Scardefield, J. E.
Schabes, M. E.
Schaefer,, H. F.
Schaekers, M.
Schaepkens, M.
Schafer, J.
Schaffert, R. M.
Schallhorn, M.
Schanzenbach, E. C.
Scharfetter, D. L.
Scharffenberger, U.
Schattenburg, M. L.
Schatzoff, M.
Schay, G.
Schay,Jr., G.
Schechtman, B. H.
Schedewie, F.
Scheffel, J. N.
Schein, H.
Schellingerhout, A. J. G.
Scherr, A. L.
Scheuerlein, R. E.
Scheuing, C.
Schiattarella, F.
Schieber, B.
Schieber, B. M.
Schild, W.
Schillinger, W.
Schimpel, U.
Schlaeppi, H. P.
Schlatter, B.
Schlesinger, Z.
Schlig, E. S.
Schlipf, T.
Schlogl, R.
Schlotter, N. E.
Schmackpfeffer, A.
Schmalhorst, J. M.
Schmalz, R. J.
Schmidt-Winkel, P.
Schmidt, D. W.
Schmidt, Rolf
Schmidt, R. N.
Schmidt, R. R.
Schmidt, R. R.
Schmidt, S.
Schmid, H.
Schmitt, R.
Schmitt, S. A.
Schmookler, M. S.
Schmunkamp, D.
Schmutz, H.
Schnabel, D. L.
Schneemeyer, L. F.
Schneider, J.
Schneider, P. R.
Schneider, R. C.
Schneider, T.
Schneider,Jr., R. P.
Schnurmann, H. D.
Schoeberl, B.
Schofield, J. F.
Scholz, F.
Scholz, W.
Schonberg, E.
Schönfeld, W.
Schor, M. I.
Schott, W.
Schouten, J. C.
Schreiber, D. E.
Schreiner, K. E.
Schroeder, C.
Schroer, P. H.
Schrott, A. G.
Schrott, A. G.
Schubert, K.-D.
Schubert, S. A.
Schuenemann, C. H.
Schuessler, P. W. H.
Schulberg, G. J.
Schüle, J.
Schultz, D. M.
Schultz, L. K.
Schulze, J.
Schulz, C. O.
Schulz, C. O.
Schumacher, F. A.
Schumann, J.
Schunemann, C.
Schürmann, S. Hill' F.
Schuster, C. D.
Schuster, S. E.
Schwartz, G. C.
Schwartz, N. S.
Schwartz, R. S.
Schwarz, E. M.
Schwarz, E. M.
Schwarz, W.
Schweitzer, P. J.
Schwenker, R. O.
Schwuttke, G. H.
Scoggin, D. M.
Scollard, M. L.
Scott, D.
Scott, J. C.
Scott, J. C.
Scott, T. R.
Scott, T. S.
Scouler, W. J.
Seader, L. D.
Seaman, M.
Seaman, P. H.
Searson, P. C.
Sears, R. E.
Sebastian, A.
Sechler, R. F.
Sederholm, C. H.
Sederholm, D. E.
Sedgwick, T. O.
Sedlacek, J. H. C.
Sedore, S. R.
Seeber, R. R.
Seeger, D.
Seeger, D. E.
Seeger, R. O.
Seelbach, W. C.
Seese, H. E.
Seger, P. J.
Segmüller, A.
Segmüller, A. P.
Seidler, P. F.
Seigler, A. E.
Seigler, R.
Seitzer, D.
Seitz, H.
Seitz, H. K.
Seki, H.
Selby, D. A.
Selfridge, J. L.
Selkov, A.
Selleck, J. E.
Sellers,Jr., F. F.
Seminaro, E. J.
Semkow, K. W.
Senger, R. C.
Sengle, E. W.
Senko, M. E.
Sept, D.
Seraphim, D. P.
Serino, R. J.
Sermon, C. F.
Serpanos, D. N.
Serrano, C. M.
Servat, H.
Sexton, J. C.
Sexton, J. C.
Seymour, K.
Sfyrakis, K.
Sguazzero, P.
Shafer, M. W.
Shafi, H.
Shahan, V. T.
Shahidi, G.
Shahidi, G. G.
Shah, M. J.
Sham, Y. Y.
Shang, H.
Shannon, C. E.
Shan, L.
Shapiro, E.
Shapiro, H. S.
Shapiro, S.
Shareef, I. A.
Sharma, A.
Sharp, D. H.
Sharp, W. K.
Sharrar, R.
Shasteen, R. B.
Shatzkes, M.
Shave, S. R.
Shaw, J. C.
Shaw, J. M.
Shaw, M. P.
Shaw, T. M.
Sha, R. T.
Shearer, J. B.
Shearon, P.
Shea, D. G.
Shedler, G. S.
Sheeler, D. J.
Shelby, R. M.
Shelby, R. M.
Sheldon, R. G.
Shelledy, F. B.
Shelleman, R. A.
Shenefelt, M.
Shenoy, R. S.
Shen, H.
Shen, J.
Shen, W. W.
Shen, X.
Shepard, K. L.
Shepard, W. C.
Shephard, P.
Shepherdson, J. C.
Sheppard, K. G.
Sheridan, D. C.
Sherlekar, D. D.
Sherony, M.
Shetty, R.
Shevel,Jr., W. L.
Shew, L. F.
Shichman, G.
Shieh, L.-J.
Shields, R. R.
Shield, T. W.
Shih, D.-Y.
Shih, D. Y.
Shih, K. K.
Shimizu, F.
Shimizu, H.
Shimizu, K.
Shimizu, S.
Shinde, S. L.
Shine, M. C.
Shin, H. J.
Shin, Y.
Shipman, J. S.
Shippy, D.
Shippy, D. J.
Shippy, G. R.
Shirane, G.
Shirasuna, S.
Shir, C.-C.
Shiu, J.
Shi, L.
Shmueli, E.
Shok, R.
Sholtz, P. N.
Shor, P. W.
Shoshani, A.
Shub, Michael
Shub, M.
Shum, C.-L. K.
Shu, N. C.
Shvadron, U.
Sibuya, M.
Siegel, I. G.
Siegel, J. H.
Siegel, M. S.
Siegle, W. T.
Siemer, G. E.
Siemons, W. J.
Sierra, H. M.
Sie, C.
Sigal, L.
Sigworth, K. L.
Sih, K. Y.
Silberman, G. M.
Silberman, J.
Silkensen, R. D.
Silverio, J. F.
Silverman, B. D.
Silverman, H. F.
Silverman, J. P.
Silverman, S. J.
Silvestri, A. M.
Silvestri, V. J.
Simek, R. L.
Simmons, J.
Simmons, R. G.
Simons, R. E.
Simonyi, E. E.
Simon, H. A.
Simpson, H. W.
Simpson, J. W.
Simpson, R. O.
Sincerbox, G. T.
Singco, G. U.
Singer, D. F.
Singh, P.
Singh, A.
Singh, B.
Singh, M.
Singh, Prabjit
Singh, P.
Singh, R.
Singh, R. N.
Singh, S.
Singleton, R. R.
Sinharoy, B.
Sinha, A. K.
Sipala, P.
Sirico, J. L.
Sitaram, D.
Sitton, G. A.
Sivan-Zimet, M.
Skalak, T. C.
Skiko, E. J.
Sklaroff, J. R.
Skooglund, D. E.
Skov, R. A.
Skudelny, G.
Slattery, M. J.
Slaughter, G. T.
Slavin, A. J.
Slegel, T. J.
Slegel, T. J.
Slinkman, J. A.
Slishman, G.
Sliter, J. A.
Slonczewski, J. C.
Slotnick, D. L.
Slusser, G. J.
Slutman, A. C.
Slutz, D. R.
Small, D.
Small, M. B.
Smart, J. S.
Smeds, N.
Smetanka, T. D.
Smith, A. I. C.
Smith, A. J.
Smith, A. W.
Smith, B.
Smith, B. A.
Smith, B. A.
Smith, B. E.
Smith, C. L.
Smith, D.
Smith, D. R.
Smith, F. D.
Smith, G. E.
Smith, G. L.
Smith, H. H.
Smith, H. I.
Smith, H. H.
Smith, J. W.
Smith, L.
Smith, N.
Smith, P. H.
Smith, P. J.
Smith, R.
Smith, R. M.
Smith, R. S.
Smith, R. W.
Smith, S. E.
Smith, T. B.
Smith, T. L.
Smith, W. E.
Smith, W. V.
Smith,Jr., J. E.
Smith,Sr., R. M.
Smolin, J. A.
Smolin, K.
Smolka, S. A.
Smura, E. J.
Snethen, T. J.
Snible, E. C.
Snir, M.
Snively, R. N.
Snyder, G. A.
Snyder, S.
Sohoni, V. S.
Solf, B.
Solihin, Y.
Solomon, Paul M.
Solomon, P. M.
Solomon, P. R.
Solomon, P. M.
Soltz, R.
Sommerhalder, R.
Song, P.
Song, S.
Song, S. H.
Soni, R. P.
Soohoo, K. M.
Sopher, R. P.
Sopka, J. J.
Sorbello, R. S.
Sorin, A.
Sorna, M.
Sorokin, A.
Sorokin, P. P.
Soukoulis, C. M.
Soule, D. E.
Soult, S. S.
Sourirajan, K.
Southard, J.
Sowa, J. F.
Sowter, B. R.
Soyuer, M.
So, S.
So, S. S.
Spadavecchia, V. N.
Spainhower, L.
Sparacio, F. J.
Spears, D. L.
Spears, J. W.
Speelpenning, B.
Speidell, J. L.
Speliotis, D. E.
Spencer, O. S.
Spence, T. M.
Speriosu, V. S.
Speth, A. J.
Spiekerman, A. J.
Spielberg, K.
Spiller, E.
Spirito, A.
Spool, A. M.
Springer, G. S.
Sprogis, E. J.
Sprokel, G. J.
Spruth, W. G.
Sri-Jayantha, S. M.
Srikrishnan, J.
Srinivasan, A.
Srinivasan, G. R.
Srinivasan, R.
Srinivasan, S.
Srinivasan, V.
Srivastava, B.
Stacy, E. W.
Stadel, J.
Stahl, K. J.
Stamos, J. W.
Stamper, A. K.
Standaert, T. E. F. M.
Standish, C. J.
Standley, C. L.
Stanich, M. J.
Stankevich, V. A.
Stanley, R. C.
Staples, J. L.
Stapper, C. H.
IBM Journal of Research and Development 2000
LSI yield modeling and process monitoring
IBM Journal of Research and Development 1995
Multipurpose DRAM architecture for optimal power, performance, and product flexibility
IBM Journal of Research and Development 1989
Fault-simulation programs for integrated-circuit yield estimations
IBM Journal of Research and Development 1989
Small-area fault clusters and fault tolerance in VLSI circuits
IBM Journal of Research and Development 1989
Large-area fault clusters and fault tolerance in VLSI circuits: A review
IBM Journal of Research and Development 1987
Correlation analysis of particle clusters on integrated circuit wafers
IBM Journal of Research and Development 1986
On yield, fault distributions, and clustering of particles
IBM Journal of Research and Development 1985
The effects of wafer to wafer defect density variations on integrated circuit defect and fault distributions
IBM Journal of Research and Development 1984
Yield model for fault clusters within integrated circuits
IBM Journal of Research and Development 1984
Modeling of defects in integrated circuit photolithographic patterns
IBM Journal of Research and Development 1983
Modeling of Integrated Circuit Defect Sensitivities
IBM Journal of Research and Development 1982
Evolution and Accomplishments of VLSI Yield Management at IBM
IBM Journal of Research and Development 1980
Yield Model for Productivity Optimization of VLSI Memory Chips with Redundancy and Partially Good Product
IBM Journal of Research and Development 1976
LSI Yield Modeling and Process Monitoring
Starke, C. W.
Starke, W. J.
Stark, G.
Stasiak, D. L.
Stathis, J. H.
Staub, U.
Stauffer, D. R.
Stawiasz, K. G.
Steele, S. W.
Steel, A. R.
Steen, S. E.
Steinbrecher, R. A.
Steinbrueck, G.
Steinbrueck, J. M. Hoke, P. W. Bond, R. R. Livolsi, T. C. Lo, F. S. Pidala, and G.
Steinmacher-Burow, B. D.
Stein, K. J.
Stemmer, A.
Stephanopoulos, G.
Stephanou, H. E.
Stern, F.
Stetter, M.
Stevenson, M. J.
Stevens, J. W.
Stevens, K. W. H.
Stevens, L. D.
Stevens, W. Y.
Stewart, G. G.
Stickel, W.
Stieglitz, C. B.
Stiffler, S. R.
Stiffler, S. R.
Stigliani,Jr., D. J.
Stiles, P. J.
Stiles, P. N.
Stillman, R.
Still, G. S.
Stilwell,Jr., G. R.
Stöhr, J.
Stok, L.
Stoller, H. I.
Stoll, E. P.
Stone, A. D.
Stone, H. S.
Stone, J. M.
Stork, J. M. C.
Storz, W.
Stout, D. W.
Strait, G. E.
Straka, B. T.
Strangwayes, R. N.
Strang, S. E.
Strasser, M.
Streetman, B. G.
Street, G. B.
Strenski, P. N.
Strickland, P. R.
Strietzel, A. V.
Stringfellow, W. R.
Strobel, P.
Stroebel, G.
Strohm, W. B.
Strole, N. C.
Strole, N. C.
Strom, J.
Strom, R.
Strom, R. E.
Strong, H. R.
Strong, P. F.
Strope, D. H.
Strube, A. R.
Struk, J. R.
Struttmann, L.
Stuckert, P. E.
Studwell, T. W.
Stuecheli, J.
Stuehler, J. E.
Stuiver, W.
Stutz, R.
St.Clair, H. K.
St.Onge, S. A.
Subbanna, S.
Subramaniam, L. V.
Succi, S.
Sudeep, K.
Sugai, I.
Suganuma, T.
Sugerman, A.
Sugimoto, K.
Suits, F.
Suits, J. C.
Suller, V. P.
Sullivan, A. J.
Sullivan, G. A.
Sullivan, R. F.
Sullivan, T. D.
Sullivan,Jr., G. A.
Sulsky, D.
Sumita, E.
Summers, P.
Sunaga, T.
Sun, J. Y.
Sun, J. Y.-C.
Sun, J. Z.
Sun, J. Z.
Sun, L.
Sun, P.
Sun, Shouheng
Sun, W.
Sureka, R.
Surkan, A. J.
Surovic, C. W.
Surovic, C. W.
Surya, S.
Susko, J. R.
Sussenguth, E. H.
Sussman, R. J.
Susukita, R.
Sutcliffe, A. J.
Sutton, A.
Sutton, A. J.
Suzuki, E.
Suzuki, M.
Suzuki, S.
Su, H.
Su, J. L.
Su, L.-S.
Svarczkopf, W. A.
Svec, R. S.
Svendsen, R.
Svendsen, R. G.
Sviridenko, M. I.
Swalen, J. D.
Swanberg, R. C.
Swanberg, R. W.
Swaney, S. B.
Swaney, S. B.
Swann, R. L.
Swanson, J. A.
Swanson, M. D.
Swartz, B. A.
Swartz, G. A.
Sweeney, P. F.
Sweeney, S. L.
Swenson, C. A.
Swetz, R.
Swift, R. E.
Swihart, J. C.
Switkes, M.
Swope, William C.
Swope, W. C.
Swope, W. C.
Sykes, A. J.
Sylvester, D. M.
Szafer, A.
Szelényi, F.
Taber, A. H.
Tabtieng, T.
Tacke, M.
Tadjbakhsh, I. G.
Taft, L. G.
Tahmoush, J.
Tai, A. F.
Tai, H.
Takagi, H.
Takagi, N.
Takahashi, O.
Takahashi, T.
Takano, H.
Takao, Y.
Takatsuji, H.
Takeda, K.
Takeichi, M.
Takeuchi, M.
Takken, T.
Talbi, M.
Talke, F. E.
Tallman, K. A.
Tallman, R.
Tamlyn, R.
Tamulis, J. C.
Tam, A. C.
Tam, J. K.
Tanaka, M.
Tanase, H.
Tang, C. K.
Tang, C. L.
Tang, D. T.
Tang, H. H. K.
Tang, H. H. K.
Tang, L.
Tang, T.
Tang, W. M.
Tantawi, A. N.
Tantawi, A. N.
Tan, C.-H.
Tan, Y.
Tappert, C. C.
Taren, W. J.
Tarnawsky, G. O.
Tasini, B. B.
Tasman, P.
Tast, H.-W.
Taubert, M.
Taub, D. M.
Taur, Y.
Tavel, M.
Tavera, M. L.
Taylor, A.
Taylor, P.
Taylor, R.
Taylor, R. H.
Taylor, R. L.
team, IBM Blue Gene
Teerlinck, I.
Teig, M.
Templeton, H. S.
Tendler, Joel M.
Tendler, J. M.
Tendler, J. M.
Tendolkar, N. N.
Teperman, A.
Terhal, B. M.
Terman, L. M.
Terris, B. D.
Tesauro, G.
Tessler, C. L.
Tetzlaff, W. H.
Tewari, R.
Thakur, S. S.
Thakur, T.
Thatcher, J. W.
Theis, T. N.
Theurich, K.
Thiébaut, D.
Thoburn, F. W.
Tholence, J.-L.
Thomas, A. C.
Thomas, D.
Thomas, D. L.
Thomas, H.
Thomas, J.
Thomas, J. W.
Thomas, W. H.
Thomas,Jr., J. E.
Thoma, E. P.
Thompson, A. H.
Thompson, B. L.
Thompson, D. A.
Thompson, G. R.
Thompson, J. G.
Thompson, K. D.
Thompson, L. H.
Thompson, R. G.
Thompson, W. A.
Thornley, R. F. M.
Thorpe, R. A.
Thouless, M. D.
Thrasher, P. M.
Thun, R. E.
Thurston, T. R.
Thygesen, D. J.
Tian, Z.
Tibbetts, R. E.
Tibbitts, B. R.
Tice, W. K.
Tideman, M.
Tiersten, M.
Tillman, C. C.
Tinghitella, M.
Ting, C.-Y.
Ting, C. H.
Tinkham, M.
Tipu, F. A.
Tischler, M. A.
Tismenetsky, M.
Titcomb, S. C.
Titcomb, S. L.
Title, R. S.
Tiwari, S.
Tobben, D.
Todd, H. S.
Todd, S. J. P.
Todini, E.
Toffoli, T.
Tolaba, J.
Tolan, B. K.
Tolat, V.
Toledo, S.
Tomann, J.
Tomashot, S. W.
Tomasulo, R. M.
Tomlin, J. A.
Tomooka, T.
Tong, F. T.
Tonti, W. R.
Toole, P. A.
Toomey, J. J.
Toonen, B.
Topol, A. W.
Torabi, H. R.
Tornello, J. A.
Torok, J. G.
Torrance, J. B.
Torrent, M.
Torres, W. T.
Tosch, S.
Tosima, S.
Totta, P. A.
Touw, T. R.
Towler, F. J.
Townsend, M. C.
Toxen, A. M.
Toyokawa, K.
To, V.
Tracey, J. M.
Tran, A. S.
Traub, R. D.
Treger, D. M.
Treinish, L. A.
Tremaine, R. B.
Tremblay, M. J.
Tresser, C. P.
Tressler, E. V.
Trevillyan, Louise
Trevillyan, L.
Trevillyan, L. H.
Trewhella, J. M.
Trew, A.
Tridgell, A.
Triebwasser, S.
Trinko, J.
Trivedi, K. S.
Trivella, M. G.
Tromp, R. M.
Trotter, J. S.
Trotter, J. S.
Trouilloud, P. L.
Trouilloud, P. L.
Troutman, R. R.
Trumbo, B. A.
Trumbo, M.
Truong, B. G.
Truong, T. K.
Tryon, D. R.
Tsai, C.-J.
Tsang, C. H.
Tsang, C. K.
Tsang, J. C.
Tsao, M.
Tseng, R. C.
Tsitsera, C. T.
Tsou, U. E.
Tsuei, C. C.
Tsui, F. F.
Tsui, R. T. C.
Tsujimoto, K.
Tsuji, S.
Tsutsui, G.
Tsu, R.
Tuckerman, B.
Tuckerman, M. E.
Tucker, A. W.
Tuel,Jr., W. G.
Tufo, H. M.
Tulipe,Jr., D. C. La
Tummala, R. R.
Tung, C.
Tunis, C. J.
Turek, J. J.
Turgeon, M. R.
Turgeon, Paul R.
Turgeon, P. R.
Turgeon, P. R.
Turnbull, J. R.
Turnbull, R. C.
Turner, C. W.
Turner, J. M.
Turner, M. E.
Turner, R. B.
Turrel, C.
Turtur, A.
Tu, K.-N.
Tu, Y.-O.
Twardeck, T. G.
Tydlitát, B.
Tyson, G. S.
Tzou, A.
Uda, M.
Ueberhuber, C. W.
Ueki, T.
Ulland, H.
Ullman, J. D.
Umamaheshwaran, A. R.
Umbach, C. P.
Umeda, S.
Ungerboeck, G.
Unger, G. J.
Upatnieks, J.
Urano, N.
Urschler, G.
Usenbinz, S.
Ushiroda, T.
Usui, H.
Uszkoreit, H.
Uttal, W. R.
Uttamchandani, S.
Uzoh, C.
Vaden, M. T.
Vadhiyar, S. S.
Vahtra, U.
Vaidyanathan, B.
Vaidyanathan, K.
Vaidya, S.
Vakirtzis, C. K.
Valentine, B. D.
Valentine, B. D.
Valera, E. V.
Valer, F.
Valijan, V.
Vallejo, J. M. Vasquez
Vallett, D. P.
Valsamakis, E. A.
Valstyn, E. P.
VanAvery, C. N.
vanBentum, P. J. M.
VanBlerkom, R.
vandeLindt, W. J.
vandenBerg, H. A. M.
Vanderkooy, J.
Vanderkulk, W.
Vanderlinden, S. L.
vanderMarel, D.
vanderPool, J. A.
VanDerveer, E. J.
Vandervorst, W.
VanderWiel, S. P.
vandeWalle, G. F. A.
VanDoorn, L. P.
vanEmdeBoas, G.
vanEmdeBoas, P.
VanGieson,Jr., W. D.
VanHart, D. C.
VanHensbergen, E.
VanHorn, J. J.
VanHuben, Gary A.
VanHuben, G. A.
VanHuben, G. A.
vanKampen, N. G.
vanKempen, H.
Varahramyan, K.
Varker, P. R.
Varma, C. M.
Varsamou, M.
Vassiliadis, S.
Vayshenker, A.
Vechten, J. A. Van
Velardi, P.
Venkatachalam, P. N.
Veracca, R. J.
Verbruggen, A. H.
Vereecken, P. M.
Vergnieres, B.
Verhelst, R. A.
Verkuil, R. L.
Verma, A.
Verma, D. C.
Vermot-Gauchy, R.
Vernon, S. M.
Vertes, A.
About IBM
|
Privacy
|
Terms of use
|
Contact