IBM Journal of Research and Development
Home
Products & services
Support & downloads
My account
Select a country
Journals Home
Systems Journal
Journal of Research
and Development
·
Current Issue
·
Recent Issues
·
Papers in Progress
· Search/Index
·
Orders
·
Description
·
Patents
·
Recent publications
·
Author's Guide
Staff
Contact Us
Related links:
IBM Research
Browse by Author
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
No Author
Find Author:
Yagnik, L.
Yair, E.
Yamada, K.
Yamaguchi, A.
Yamamoto, M.
Yamamura, S.
Yamanaka, H.
Yamashita, A.
Yanagisawa, H.
Yang, D. Y.
Yang, J.
Yang, K. H.
Yannoni, C. S.
Yano, N.
Yan, W.
Yao, Y. L.
Yardy, R.
Yarmchuk, E. J.
Yarnell, J. L.
Yarrington, J. C.
Yashchin, E.
Yasue, T.
Yasuoka, K.
Yeager, J.
Yee, K. F.
Yee, P. L.
Yeh, J.
Yeh, P.
Yeh, P. C.
Yeh, T.-H.
Yen, A. C.
Yen, E. T.
Yeo, B.-L.
Yeo, H.
Yetzer, R. H.
Yeung, M. M.
Ye, S.
Yhap, E. F.
Yocom, P. B.
Yoda, K.
Yoffa, E. J.
Yogi, T.
Yong, S.
Yoshida, R.
Yoshimine, M.
Young, A. M.
Young, D. R.
Young, F. W.
Young, H. C.
Young, K. F.
Young, S. P.
Young, W. R.
Younus, M. I.
Yourke, H.
You, H.
Yu-Jahnes, Lock See
Yudenfriend, H. M.
Yudenfriend, H. M.
Yudico, R.
Yue, P. C.
Yu, H.
Yu, H.-N.
Yu, M. L.
Yu, X. L.
Yu, Y.-Y.
Yvon, K.
IBM Journal of Research and Development 1989
Oxygen “disorder” and the structures of high-
T
c
superconductors by neutron powder diffraction
Zabel, T. H.
Zable, J.
Zable, J. L.
Zafiropulo, P.
Zaki, O. A.
Zaks, A.
Zamdmer, N.
Zamora, A.
Zapata, I. R.
Zappe, H. H.
Zarkesh-Ha, P.
Zaromb, S.
Zasio, J. J.
Zecca, V.
Zee, M.
Zeggert, W. P.
Zeghbroeck, B. J. Van
Zelenski, R. E.
Zemon, S.
Zenewicz, P. P.
Zenzo, S. Di
Zhai, B.
Zhang, J.
Zhang, L.
Zhang, S.
Zhang, Y.
Zhao, S. W.
Zheng, G.
Zhestkov, Y.
Zhou, R.
Zhou, T.
Zhu, J.
Zhu, W.
Ziegler, J. F.
Ziegler, R. A.
Zierak, M. J.
Zier, S. J.
Ziesler, C. H.
Zilles, C.
Zilles, G.
Zimmermann, V.
Zimmerman, S. M.
Zipperer, H.-G.
Zitz, J. A.
Zoellin, C. G.
Zoric, B. A.
Zubair, M.
Zuchowski, P. S.
Zucker, J.
Zukowski, D. J.
Zuliani, P.
Zumbrunnen, M. L.
Zutic, I.
Zweig, H. J.
Zwick, T.
Zyuban, V.
(No Author)
,
, B. M. Kreuz
, C. Berrospi
, C. Supatgiat
, David E. Seeger
, G. M. Swirszcz
, K. Theurich
, M. T. Vaden
, S. R. Carlough
About IBM
|
Privacy
|
Terms of use
|
Contact