Browse by Author

A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z No Author
Find Author:

Wade, B. W.
Wade, R. D.
Wagner, H.
Wagner, R. E.
Wahi, P. N.
Wahler, M.
Waidner, M.
Waite, N. B.
Wakao, F.
Waldbaum, G.
Walenta, C.
Walicki, J. A.
Walker, J. Q.
Walker, L.
Walker, M. L.
Wall, W. A.
Walpole, J.
Walrad, C.
Walsh, H. F.
Walston, C. E.
Walter, A. G. N.
Wang, A.
Wang, G.
Wang, G. W.
Wang, H.-H.
Wang, J. T. L.
Wang, M.
Wang, Q. B.
Wang, X. S.
Wang, Y.
Want, R.
Ward, C.
Ward, M. J.
Warnes, J.
Wasmund, M.
Waszkowycz, B.
Waters, F. C. H.
Watkins, A. J.
Watson, H. K.
Watson, S. L.
Watson, T.
Wattenberg, M.
Watts, V. L.
Waugh, M.
Weaver, R.
Weber, G.
Weber, J. C.
Weeks, D. R.
Weerawarana, S.
Weigand, U.
Weill, P.
Weinberger, S.
Weingarten, R. A.
Weinstein, R. S.
Weiser, M.
Weisser, Jason
Weiss, C.
Weiss, L.
Weiss, S. M.
Weiss, S. M.
Weiss, Z.
Weis, A. H.
Weitzman, L.
Wei, C.
Welch, P. D.
Weller, D. L.
Weller, J. W.
Wessels, G.
Westerman, G.
Wester, B. A.
West, Frances
Weyuker, E. J.
Whaley, J.
Wheatley, M. T.
Wheeler, E. F.
Wheeler, S.
Wheeler, W. R.
Wheeler,Jr., T. F.
Whidden, P. D.
Whisnant, K.
Whistance, G.
White, B.
White, L. F.
White, M.
White, S. R.
White, S. W.
White, S. R.
White, W. W.
Whitmore, J. J.
Wiegand, J.
Wilcock, G. R.
Wilcox, E.
Wilkins, J. D.
Wilks, R.
Willenborg, R.
Willhoft, R. G.
Williams, C.
Williams, C. E.
Williams, K. C.
Williams, R.
Williams, R. J.
Williams, R. L.
Willuhn, D.
Will, R.
Wilson, A. D.
Wilson, D. G.
Wilson, T.
Wilson, T. L.
Wilson, W. G.
Wimbrow, J. H.
Wingert, W. B.
Winslow, R. L.
Winters, G. A.
Wisniewski, R. W.
Witt, B. I.
Wladawsky-Berger, I.
Woerkom, H. M. Van
Wolfe, R. F.
Wolfley, J. R.
Wolford, D. E.
Wolfson, D. C.
Wolf, C. G.
Wolf, J. L.
Wong, A. K. C.
Wong, D. J.
Wong, J. W.
Wong, K.
Wong, W. Y. P.
Woodrum, L. J.
Woodside, M.
Woodwark, J. R.
Woodworth, Bill
Wood, C.
Wood, C. E.
Wood, M. W.
Wooley, J. C.
Woolley, S. I.
Worley, E. L.
Worthington, P. S.
Wothke, K.
Wright, S. P.
Wu, C. H.
Wu, F.
Wu, F. Y.
Wu, F. Y.
Wu, K.-L.
Wu, P.
Wyble, C. D.
Wyckoff, P.
Xenidis, J.
Xie, G T.
Xing, J.
Xue, J.
Xu, J.
Xu, K.
Yagil, S.
Yahav, E.
Yakhnis, V. R.
Yamada, H.
Yamaguchi, K.
Yamaguchi, M.
Yang, H.
Yang, J.
Yang, S. C.
Yang, S. X.
Yang, Y.
Yan, L.
Yan, N.
Yardeni, L. A.
Yassur, B.-A.
Yasue, T.
Yates, R.
Yee, B.
Yeh, P. C.
Yelavich, B. M.
Yellin, D. M.
Yeoh, C.
Yew, P.-C
Ye, M.
Yglesias, K. P.
Yocom, P.
Yonezawa, M.
	IBM Systems Journal 1994	In-process improvement through defect data interpretation
Yost, R. A.
Youngs, R.
Young, G. E.
Young, H. C.
Youssef, A.
Yozzo, R. E.
Yudenfriend, H. M.
Yung, C. K.
Yusuf, L.
Yuval, A.
Yu, P. S.
Zachman, J. A.
Zaks, A.
Zatti, S.
Zecca, V.
Zeidner, L.
Zeng, L.
Zhai, S.
Zhang, C.
Zhang, G.
Zhang, L.-J.
Zhang, T.
Zhao, P.
Zhao, Y.
Zhou, J.
Zhou, M. X.
Zhou, N.
Zhu, J.
Zhu, Q.
Ziegler,Jr., K.
Zien, J.
Zilles, S. N.
Zimmerman, L. L.
Zimmerman, T. G.
Zimowski, M. R.
Zingaretti, D. P.
Ziq, A.
Ziv, A.
Zloof, M. M.
Zlotek, A.
Zollar, Al
Zubair, M.
(No Author)